ICMTS 1996 - 1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, March 25-28, 1996, Trento, Italy : proceedings

Författare
IEEE Electron Devices Society IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (1996 : Trento)
(Sponsored by the IEEE Electron Devices Society.)
Genre
Konferenser, Ej skönlitteratur, Konferenspublikation
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
IEEE cop. 1996 USA, Piscataway, N.J xi, 313 sidor. ill.